SEM Özellikleri

 

MODEL : JEOL JSM–6060 LV

TEKNİK ÖZELLİKLER:

  • Taramalı elektron mikroskobu (SEM) tamamen dijital olup bilgisayar kontrolü ile çalışmaktadır.
  • Elektron kaynağı olarak K- tipi tungsten filaman kullanılmaktadır.
  • 5 eksen motorize kartezyen kontrolü (X=20mm, Y=10mm, Z=40mm, Tilt= -10˚ ve +90˚, Dönme=360˚) ile çalışmaktadır.
  • 30 kV hızlandırıcı voltajı ve 8 mm çalışma aralığı koşullarında 3,5 nm çözünürlük elde edilmektedir.
  • SEM'de 0,5 kV-30 kV hızlandırıcı voltaj aralığında inceleme yapılabilmektedir.
  • 8x–300.000x arası büyütme kapasitesine sahiptir. (Çalışma aralığının 48 mm ve hızlandırma voltajının da 10kV olması durumunda 5x büyütmesine kadar inilmektedir.)
  • Üç tip numune tutucu vardır :

      1-  10 mm çapında numunenin yerleştirildiği 5 veya 10 mm yüksekliğindeki pirinç tablaların sabitlendiği tekli tutucu,

      2-  Aynı ölçülerdeki tablalardan dört numunenin birden bakılmasına olanak sağlayan dörtlü tutucu.

      3- 32 mm çapında numunenin yerleştirildiği 5 veya 10 mm yüksekliğindeki pirinç tablaların yerleştirildiği tekli tutucu.